黃山BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀

所屬分類：黃山納米粒度及Zeta電位分析儀
瀏覽次數(shù)：
二維碼：
發(fā)布時(shí)間：2022-04-13 14:29:50

我要詢價(jià)

產(chǎn)品概述

產(chǎn)品介紹

BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

基本性能指標(biāo)

粒徑檢測(cè)

原理原理	動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)
粒徑范圍	0.3 nm – 15 μm
樣品量	3 μL – 1 mL
檢測(cè)角度	90 ° + 12°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測(cè)試

原理原理	相位分析光散射技術(shù)
檢測(cè)角度	12°
Zeta范圍	無(wú)實(shí)際限制
電泳遷移率范圍	＞±20 μ.cm/V.s
電導(dǎo)率范圍	0 - 260 mS/cm
Zeta測(cè)試粒徑范圍	2 nm – 110 μm

分子量測(cè)試

分子量范圍

342 Da – 2 x 107 Da

微流變測(cè)試

頻率范圍

0.2 – 1.3 x 107 rad/s

測(cè)試能力

均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

折光率和粘度測(cè)試

粘度范圍

0.01 cp – 100 cp

折光率范圍

1.3-1.6

趨勢(shì)測(cè)試

時(shí)間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 110°C ，精度±0.1°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮?dú)?/span>
標(biāo)準(zhǔn)激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關(guān)器	最快25 ns采樣，最多 4000通道，10¹¹動(dòng)態(tài)線性范圍
檢測(cè)器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強(qiáng)控制	0.0001% - 100%，手動(dòng)或者自動(dòng)

軟件

中文和英文

符合21CFR Part 11

檢測(cè)參數(shù)

●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

●分子量

●分布系數(shù) PD.I

●擴(kuò)散系數(shù) D

●流體力學(xué)直徑 DH

●顆粒間相互作用力因子 kD

●溶液粘度

檢測(cè)技術(shù)

●動(dòng)態(tài)光散射

●電泳光散射

●相位分析光散射

●靜態(tài)光散射

選配件

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過檢測(cè)得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)I_US，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過定量的I_US和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

未標(biāo)題-2.jpg