BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀

所屬分類：納米粒度及Zeta電位分析儀
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發(fā)布時間：2022-04-13 14:56:40

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產品概述

產品介紹

BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

基本性能指標

粒徑檢測

原理	動態(tài)光散射技術
粒徑范圍	0.3 nm – 10 μm
樣品量	40 μL – 1 mL
檢測角度	173 ° + 12°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測試

原理	相位分析光散射技術
檢測角度	12°
Zeta范圍	無實際限制
電泳遷移率范圍	＞±20 μ.cm/V.s
電導率范圍	0 - 260 mS/cm
Zeta測試粒徑范圍	2 nm – 110 μm

分子量測試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

頻率范圍	0.2 – 1.3 x 10⁷ rad/s
測試能力	均方位移、復數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

粘度和折光率測試

粘度范圍	0.01 cp – 100 cp
折光率范圍	1.3-1.6

趨勢測試

時間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 110°C，精度±0.1°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮氣
標準激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關器	最快25 ns采樣，最多 4000通道，10¹¹動態(tài)線性范圍
檢測器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強控制	0.0001% - 100%，手動或者自動

軟件

中文和英文

符合21CFR Part 11

檢測參數(shù)

●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布

●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

●分子量

●分布系數(shù) PD.I

●擴散系數(shù) D

●流體力學直徑 DH

●顆粒間相互作用力因子 kD

●溶液粘度

檢測技術

●動態(tài)光散射

●電泳光散射

●靜態(tài)光散射

選配件

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設備，通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)I_US，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結構變化，從而極大的節(jié)約檢測時間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過定量的I_US和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

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