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黃岡BeNano Zeta Zate電位分析儀

黃岡BeNano Zeta Zate電位分析儀

  • 所屬分類:黃岡納米粒度及Zeta電位分析儀
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  • 發(fā)布時間:2022-04-13 14:23:25
  • 產品概述

產品介紹


BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學檢測系統(tǒng)。BeNano Zeta 系統(tǒng)基于電泳光散射原理,樣品分散在樣品池中,在樣品池兩端施加一個電場,通過激光照射到電場中的樣品上,光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運動造成的散射光的多普勒頻移,進而得到體系的 Zeta 電位信息。


BeNano-Zeta-電位分析儀.jpg


基本性能指標


Zata電位測試

  原理

  相位分析光散射技術

  檢測角度

  12°

  Zeta范圍

  無實際限制

  電泳遷移率范圍

  > ±20 μ.cm/V.s

  電導率范圍

  0-260 mS/cm

  Zeta測試粒徑范圍

  2 nm – 110 μm

  樣品量

  0.75 mL – 1.0 mL


趨勢測試

  時間和溫度



系統(tǒng)參數

  溫控范圍

  -15℃-110℃,精度±0.1℃

  冷凝控制

  干燥空氣或者氮氣

  標準激光光源

  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm

  相關器

  最多 4000通道,1011動態(tài)線性范圍

  檢測器

  APD (高性能雪崩光電二極管)

  光強控制

  0.0001%  - 100%,手動或者自動


軟件

   中文和英文

  符合21CFR Part 11



檢測參數

●Zeta 電位

Zeta 電位分布



檢測技術

●電泳光散射

●相位分析光散射




選配件


BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結構變化,從而極大的節(jié)約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

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技術支持: 丹東百特儀器有限公司 遼公網安備 21060302000032號
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