大慶BeNano 180 納米粒度分析儀

所屬分類：大慶納米粒度及Zeta電位分析儀
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發(fā)布時間：2022-04-13 13:40:16

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產(chǎn)品概述

產(chǎn)品介紹

BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學檢測系統(tǒng)。它基于動態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在背向 173°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關(guān)器進行自相關(guān)運算得出樣品的自相曲線，結(jié)合數(shù)學方法就可以得到顆粒的擴散系數(shù)，進一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結(jié)果。

BeNano-180-納米粒度分析儀.jpg

基本性能指標

粒徑檢測

原理	動態(tài)光散射技術(shù)
粒徑范圍	0.3 nm – 10 μm
樣品	40 μL – 1 mL
檢測角度	173
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

分子量測試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

頻率范圍	0.2 – 1.3 x 10⁷ rad/s
測試能力	均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

粘度和折光率測試

粘度范圍	0.01 cp – 100 cp
折光率范圍	1.3-1.6

趨勢測試

時間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 110°C，精度±0.1°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮氣
標準激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關(guān)器	最快25 ns采樣，最多 4000通道，10¹¹動態(tài)線性范圍
檢測器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強控制	0.0001% - 100%，手動或者自動