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安慶BeNano 180 納米粒度分析儀

所屬分類：安慶納米粒度及Zeta電位分析儀
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發(fā)布時間：2022-04-13 13:40:16

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產(chǎn)品概述

產(chǎn)品介紹

BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學檢測系統(tǒng)。它基于動態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在背向 173°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關器進行自相關運算得出樣品的自相曲線，結合數(shù)學方法就可以得到顆粒的擴散系數(shù)，進一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結果。

BeNano-180-納米粒度分析儀.jpg

基本性能指標

粒徑檢測

原理	動態(tài)光散射技術
粒徑范圍	0.3 nm – 10 μm
樣品	40 μL – 1 mL
檢測角度	173
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

分子量測試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

頻率范圍	0.2 – 1.3 x 10⁷ rad/s
測試能力	均方位移、復數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

粘度和折光率測試

粘度范圍	0.01 cp – 100 cp
折光率范圍	1.3-1.6

趨勢測試

時間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 110°C，精度±0.1°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮氣
標準激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關器	最快25 ns采樣，最多 4000通道，10¹¹動態(tài)線性范圍
檢測器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強控制	0.0001% - 100%，手動或者自動